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微焦点X射线检查系统 XslicerSMX-6000
面议XDimensus 300 测量用X射线CT系统
面议TQC VF2246 流平流挂器
面议UVmini-1285 紫外分光光度计
面议UVmini-1280 紫外分光光度计
面议UV-2600/2700 研究级的分光光度计 紫外分光光度计
面议UV-1900i 双光束紫外可见分光光度计
面议UV-1780 紫外可见分光光度计
面议微焦点X射线CT系统 inspeXio SMX-90CT Plus
面议微焦点X射线检查装置 SMX-800
面议SMX-350M/FI-350M X-ray检查装置(透视)
面议SMX-312M/FI-312M X-ray检查装置(透视)
面议TQC PowderTAG 粉末涂层厚度分析仪是利用光热法对薄膜厚度进行非接触、无破坏性测量的仪器。符合标准DIN EN 15042-2。这台轻巧稳健的仪器可快速精准地测量在金属和MDF底材上粉末涂层在固化前后的厚度。测量系统由传感器和显示器组成,通过一条电缆连接。
光热光谱测量光学------热吸收高度敏感的测量技术,基于样本在辐射吸收时所产生的材料的热状态变化的量化数据。
TQC PowderTAG 粉末涂层厚度分析仪装放于一个坚固的运送箱里。
备注:仪器的性能、测试范围和精度取决于底材的构造和粉末涂料颜色的特性。大部分的粉末涂层测量都没有任何问题,在极少数情况下,涂层与光热技术不兼容,或者需要特殊的设定。
TQC PowderTAG的使用是将探头在合适的距离指向测量物品的表面,LED指示器会显示恰当的距离/位置,然后按下“测量”按钮。
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