DX型数字测量显微镜介绍

    DX测量显微镜系列是观察、测量和处理系统化的显微镜阵容。

    DX型数字测量显微镜特点

    ●视场宽阔，可得清晰无闪烁正像

    ●高精度测量，同时具有大测量范围和高精度，适用于各种测量

    ●可选用高NA物镜，满足长工作距离的测量要求

    ●照明装置（反射/透射）可选用高亮度LED的照明或卤素照明

    ●利用可变孔径光阑进行无衍射观察测量

    ●各类尺寸的标准工作台

    ●快速释放装置便于测量工件大或测量工件数量多的快速移动工作台

    ●高位目镜观察

    ●便捷CCD图像成像，可选配多种CCD数码相机

    DX型数字测量显微镜观察成像

    偏光观察

    观察过滤后只有一个方向振动的光。适于观察具有特殊光学特性的材料，如矿石和液晶。

    微分干涉对比观察

    在检测金属、液晶和半导体表面的微小划痕和阶差时很有效。

    暗视场观察

    挡住直射到物体上的光，只观察散射光，通过高对比度能观察到在亮视场看不到的划痕和粉末。

    亮视场观察

    最普通的观察方式，直接观察从工件表面反射的光。

    新功能增强Z轴测量精度

    ●辅助对焦（FA）

    新近研发的分光棱镜辅助对焦（FA）提供更锐利的图案，可在Z轴测量期间提供精确对焦。由于不同物镜焦深差异导致的测量误差被降到。

    对焦前端对焦后端对焦

    DX型数字测量显微镜规格

    ●无限远系统，管镜200mm

    ●倾斜角度30°，瞳孔距离55-75mm，正像

    ●高眼点，大视场WF10/22

    ●鼻轮螺纹M26X0.706

    ●Z轴的长度180mm，微动精度0.002mm，测量精度（at20℃），XY-轴的（2.5+0.02L）um，L=测量长度（mm）在没有放物体分辨率为0.001mm

    ●12V50W反射卤素灯

    ●3W高亮度LED光源

    ●可配置辅助调焦装置（FA）

    DX型数字测量显微镜技术参数