原子力显微镜(Atomic Force Microscopy，简称AFM)，是一种不需要导电试样的扫描探针显微镜。这种显微镜通过其粗细只有一个原子大小的探针在非常近的距离上探索物体表面的情况，便可以分辨出其他显微镜无法分辨的极小尺度上的表面细节与特征。
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AGILENT 原子力显微镜安捷伦原子力显微镜的详细资料：
AGILENT 原子力显微镜产 品 概 要
原子力显微镜（Atomic Force Microscopy，简称AFM），是一种不需要导电试样的扫描探针显微镜。这种显微镜通过其粗细只有一个原子大小的探针在非常近的距离上探索物体表面的情况，便可以分辨出其他显微镜无法分辨的极小尺度上的表面细节与特征。AFM能以*的高分辨率探测原子和分子的形状，确定物体的电、磁与机械特性，甚至能确定温度变化的情况。使用AFM时无需使试样发生变化，也无需使试样受破坏性的高能辐射作用。
