一、产品介绍：

   XAN^® 系列仪器特别适合测量和分析超薄镀层，即使镀层成分复杂或含量微小也都能准确测量。该系列产品简单易用且性价比高，因此在同类产品中脱颖而出。

二、XAN涂镀层厚度测量仪特性：

1、操作简单且性价比高。

2、自下而上进行测量，从而快速、简便地定位样品。

3、广泛适用：为各个行业的典型需求量身定制了多种型号。

4、以非破坏性方式进行镀层厚度测量与元素分析。

5、带有高性能 X 射线管和高灵敏度的硅漂移探测器 (SDD)的机型，可对极薄镀层及微量成分进行精确测量。

三、XAN涂镀层厚度测量仪应用：

（一）镀层厚度测量：

1、厚度仅为几纳米的贵金属镀层。

2、时尚首饰：对代镍镀层等新工艺多镀层系统进行分析。

3、磨损镀层，如：对化学镍镀层的厚度及磷含量进行测量。

4、测试纳米级基础金属化层（凸点下金属化层，UBM）。 

（二）材料分析：

1、测定黄金首饰等贵金属、手表和硬币的成分与纯度。

2、专业实验室、检测机构以及科研院校中常规材料分析。

3、依据 RoHS、WEEE、CPSIA 以及其他准则，检测电子元件、包装以及消费品中不。合要求的物质（例如重金属）。

4、功能性镀层的成分，如测定化学镍中的磷含量。