半导体分立器件测试系统

系统特征

测试范围广（19总大类，27分类）

升级扩展性强，通过选件可提升电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V，1250A

采用脉冲测试法，脉冲宽度为美军标规定300uS

被测器件引脚接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试，确保被测器件不受损坏

真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导，其结果与器件实际偏差很大）

系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排除故障

二极管极性自动判断功能，无需人工操作

系统概述

西安易恩电气 EN-2005B功率器件综合测试系统，设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品质范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。

面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果。前面板的小键盘方便了系统操作。通过小键盘，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。

系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

应用领域

院所、高校、半导体器件生产厂商、

电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、

新能源汽车、轨道机车检修等

设备用途

测试分析、器件选型 、筛选检验 、生产线自动批量测试等

技术指标

主极电压:    10mV-2000V

主极电流：   100nA-50A

扩展电流：   100A、500A、1000A、1300A

电压分辨率：    1mV

电流分辨率：    1nA

测试精度：   0.2%+2LSB

测试速度：   0.5mS/参数

系统功耗：   <150w

质    量：   35KG

尺    寸：   450x570x280mm

通信接口：   RS232 USB

工作温度：   25-40°C

测试范围

二极管DIODE，晶体管（NPN型/PNP型），J型场效应管J-FET，MOS场效应管  MOS-FET双向可控硅TRIAC，可控硅SCR，绝缘栅双*功率晶体管IGBT，硅触发可控硅STS

达林顿阵列DARLINTON，光电耦合OPTO-COUPLER，继电器RELAY，稳压、齐纳二极管ZENER三端稳压器REGULATOR，光电开关OPTO-SWITCH，光电逻辑OPTO-LOGIC，金属氧化物压变电阻MOV，固态过压保护器SSOVP，压变电阻VARISTOR，双向触发二极管DIAC