半导体快速恒温恒湿箱
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半导体快速恒温恒湿箱
半导体快速恒温恒湿箱

AP-KS半导体快速恒温恒湿箱

参考价: ¥69800~¥298000

具体成交价以合同协议为准
2022-12-14 11:10:50
719
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产地:国产;产品新旧:全新;
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东莞市爱佩试验设备有限公司

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产品简介

半导体快速恒温恒湿箱用于电工、电子产品、元器件、零部件及其材料进行高温、低温、或高低温渐变的试验,还可以对电子元器件及产品进行应力筛选试验;适用于:电工、电子产品、元器件等。

详细介绍

半导体快速恒温恒湿箱用于电工、电子产品、元器件、零部件及其材料进行高温、低温、或高低温渐变的试验,还可以对电子元器件及产品进行应力筛选试验;适用于:电工、电子产品、元器件等。

半导体快速恒温恒湿箱技术参数:

内箱容积有:810升、100升、50升、 225升、416升、800升、1000升(还可以定制非标尺寸及升降温速度)

温变率:有5℃/min、3℃/min、8℃/min、9℃/min、10℃/min、15℃/min (有线性或非线性可选择)

温度范围:-40℃~+150℃(温变范围-40~+20℃)

湿度范围:20 %~98 % RH(分布范围如下图,满足一般型)注:满足做25℃,20%湿度的低湿条件

温度波动度:±0.5℃

温度偏差:±2.0℃

工作噪音:A声级≤75dB(A)   (在环境温度25℃,回声少的隔音室内测得;采用A计权,测试8个点的平均值;各测试点水平离噪音源1米、高度离地面1米)。

其他:增加三路温度探头,实时采集产品温度

测试环境条件:机器周围环境温度维持在+5~+30℃之间,相对湿度:≤85%;气压:86kPa~106kPa正常大气压力。

满足标准:·GB/T10589-2008低温试验箱技术条件;·GB/T10592-2008高低温试验箱技术条件;·GB2423.1-2008低温试验Aa , Ab;·MIL-STD810D方法502.2;·GB/T2423.4-2008(MIL-STD810)方法507.2程序3;·GJB 150.9-8温热试验


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