扫描电子显微镜

扫描电镜

zui通用的高性能SEM

Apreo扫描电子显微镜（SEM）的革命性复合透镜设计结合了静电和磁浸技术，可提供qian所未有的分辨率和信号选择。这使得Apreo SEM成为研究纳米颗粒，催化剂，粉末和纳米器件的shou选平台，而不会影响磁性样品的性能。

Apreo SEM得益于*的镜头后向散射检测功能，即使在倾斜，短工作距离或敏感样品上，也可提供出色的材料对比度。新型复合透镜进一步通过能量过滤提高了对比度，并增加了用于绝缘样品成像的电荷过滤。现在，可选的低真空模式具有500 Pa的zui大腔室压力，即使是zui苛刻的绝缘子也可以成像。

通过所有这些选项，包括复合式zui终镜头，*的检测和灵活的样品处理，Apreo SEM的性能和多功能性将满足您未来很多年的研究挑战。

材料科学的Apreo SEM

新型Apreo扫描电子显微镜（SEM）可为包括纳米粒子，金属，复合材料和涂层在内的多种材料提供性能，并结合了创新功能，以实现更好的分辨率，对比度和易用性。

• *的复合zui终透镜在1 kV时可提供1.0 nm的出色分辨率，无需光束减速-在任何样品上，即使它是倾斜或地形。
• zui有用的反向散射检测-即使在低电压和电子束电流，任何倾斜角度，电子束敏感样品和电视速率成像下，材料对比度始终可用。
• 的检测器灵活性-通过组合来自各个检测器段的信息，获得zui重要的对比度或信号强度。