SOC400T 便携式FTIR测量仪采用便携、手持式设计,  可以现场测量材料表面的定向反射率并计算定向热发射率。
    SOC400T FTIR具有一个2π光学系统的FTIR，采用前置光学设计，操作简单，内置标定。可替换已停产的Gier Dunkle DB-100红外反射计，波长范围为2-25微米，光谱分辨率可设置，测量近法向、总的定向反射率；SOC400T FTIR软件基于Windows XP操作系统，可以计算不同温度下的定向发射率。
     SOC400T FTIR便携式FTIR光谱仪荣获NASA技术创新证书，可以用作现场和实验室快速测量高精度材料光学参数，适用于平面或弯曲的样品表面。

    SOC400T FTIR测量红外光谱总反射率，光谱反射数据能为材料表面化学成份、质量控制、工业卫生、定量分析、硬塑料回收、涂层鉴定等提供依据。
     SOC400T FTIR测量快速、使用简便，测量时只需对准样品，SOC400T FTIR内置软件可自动实现标定、测量、计算和保存结果。

SOC400T FTIR优点： 
♦　和NASA合作开发，并荣获NASA技术创新证书
♦　可手持操作或三脚架固定操作
♦　样品小可至0.5”
  
应用领域：
♦　材料基本特征测量
♦　辐射热传输：

- 冷却空间- 能量守恒

- 辐射炉处理
♦　辐射遥感地面真实提供光谱验证：
-  地质应用
- 军事领域
- 环境领域      
 
SOC400T 便携式FTIR测量仪技术参数
测量结果：近法线光谱反射率
计算结果：温度函数的总定向发射率
波长范围：2.0~25 µm, 5000~400 cm-1
扫描设备FTIR：迈克逊干涉仪
扫描时间：可设置
光谱分辨率：2, 4, 8, 16, 32 cm-1
光源：1650 K灰体
重量：23 lbs.
尺寸：10” H, 9” W, 14” D
样品尺寸：直径≥0.5”
标定：内置自动标定
电源：100 V AC or 12 V DC