XRF9能量色散X射线荧光分析仪是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。
XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。
（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。
 
产品特点
*的多光束可调系统
具有高分辨率的探测器
采用XYZ三维样品台
大型样品分析室
CCD摄像及自动定位系统
自动调节双层六通道滤光系统
完善的辐射安全防护
强大功能的软件操作系统
短时间多元素同时分析
无损分析和*的薄样分析技术相组合
多种定量分析方法
无需液氮和水循环冷却
种类齐全的选配标准样品
RoHS/WEEE指令快速分析
 
XRF9能量色散X射线荧光分析仪仪器配置
外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3
样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3
主机质量：约45Kg
工作环境温度：0~40ºC
工作环境相对湿度：≤80%
元素分析范围：AI-U
含量分析范围：1ppm~99.99%
重复性：＜5%
测量时间：一般60~300s
测量对象：块状物体、粉末、液体
激发功率：50W
探测器分辨率：149gev
输入电源：AC110V/220V
高压电源：0~50kv/0~1mA
X射线辐射剂量：≤1µSv/h
代表性元素120s低检出限LOD(mg/kg)