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XRF9能量色散X射线荧光分析仪是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。
XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品,广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。
(注):X射线荧光(XRF)分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线(X射线荧光),它是一种非破坏性分析方法,可以对试样进行多元素快速分析。
产品特点
*的多光束可调系统
具有高分辨率的探测器
采用XYZ三维样品台
大型样品分析室
CCD摄像及自动定位系统
自动调节双层六通道滤光系统
完善的辐射安全防护
强大功能的软件操作系统
短时间多元素同时分析
无损分析和*的薄样分析技术相组合
多种定量分析方法
无需液氮和水循环冷却
种类齐全的选配标准样品
RoHS/WEEE指令快速分析
XRF9能量色散X射线荧光分析仪仪器配置
外形尺寸:750(L)×590(W)×715(H)mm3
样品室尺寸:400(L)×100(W)×100(H)mm3
主机质量:约45Kg
工作环境温度:0~40ºC
工作环境相对湿度:≤80%
元素分析范围:AI-U
含量分析范围:1ppm~99.99%
重复性:<5%
测量时间:一般60~300s
测量对象:块状物体、粉末、液体
激发功率:50W
探测器分辨率:149gev
输入电源:AC110V/220V
高压电源:0~50kv/0~1mA
X射线辐射剂量:≤1µSv/h
代表性元素120s低检出限LOD(mg/kg)