ST2258C型多功能数字式四探针测试仪

一、概述
  运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。 
    仪器成套组成：由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。 
主机主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入；具有零位、满度自校功能；电压电流全自动转换量程；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能，分类10类。 
    探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头，也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。 
    测试台选配：一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台，也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率，选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》 
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。 
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。 
二、ST2258C型多功能数字式四探针测试仪基本技术参数
1. 测量范围、分辨率（括号内为可向下拓展1个数量级）    

电    阻：10.0×10-6 ～ 200.0×103  Ω,    分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω （1.0×10-6 ～ 20.00×103  Ω,    分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω） 

 电 阻 率：

10.0×10-6 ～ 200.0×103 Ω-cm  分辨率1.0×10-6 ～ 0.1×103  Ω-cm 
（1.0×10-6 ～ 20.00×103 Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ～ 0.01×103 Ω-cm） 

方块电阻：

50.0×10-6 ～ 1.0×106 Ω/□   分辨率5.0×10-6 ～ 0.5×103  Ω/□  
（5.0×10-6 ～ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ～ 0.1×103  Ω/□） 

2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定) 
  直    径： SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm，手持方式不限 
  SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm，手持方式不限. 
  长(高)度：  测试台直接测试方式 H≤100mm,    手持方式不限. 
  测量方位:  轴向、径向均可 

3. 量程划分及误差等级。