纳米粒度仪通过光散射技术和巧妙简易的软件测量颗粒尺寸，zeta电位、分子量和透光率。它会让您对颗粒体系有一个快速而准确的认识，展示这些颗粒体系如何随着时间、pH值、温度和浓度变化，从而为您提供优化工具。

　　纳米粒度仪主要性能特点：

　　1.*的测试原理 该仪器采用动态光散射原理，其测试方法具有不破坏、不干扰纳米颗粒体系原有状态的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；

　　2.高灵敏度与信噪比 核心部件采用我公司自主研制CR256数字相关器，它实时完成动态散射光强的采集和自相关函数运算，从而有效地反映不同大小颗粒的动态光 散射信息，为测试结果的准确度奠定基础；

　　3.稳定的光路系统 采用光纤技术搭建而成的光路系统，使光子相关谱探测系统不仅体积小，而且具有很强的抗*力，从而保证了测试的稳定性；

　　4.高精度恒温控制系统 采用半导体温控技术，温控精度高达±0.2℃，使样品在整个测试过程中始终处于恒温状态，避免温度变化而引起液体黏度及布朗运动速度变化导致的测试偏差，保证测试结果准确度及稳定性。

　　纳米粒度仪采用动态光散射原理检测分析颗粒系的粒度及粒度分布，粒径检测范围0.5nm – 10μm。粒度分析复合采用 Gaussian 单峰算法和NiComp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有*优势，其优异的解析度及重现性是其他同类产品*的。整机采用模块化设计,可灵活方便地扩展 Zeta 电位等其它功能。