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YN-DX-320L是一款能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF);其核心光路系统集合国内外几十年EDXRF*技术,核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有第三方检查机构报告;YN-DX-320L精密度、准确度、检出限等技术参数全面超越国内外同类仪器。
仪器特点:
外形特点:
仪器结构采用人体工程学设计,仪器两侧按成人手臂长度设计,方便移动、搬运。
上盖倾斜6度角,寓意对客户的尊重。
样品盖采用铅玻璃防辐射技术,在保证操作人员安全的前提下,方便观察样品;
表面采用高档汽车喷漆工艺,采用宝蓝、雅致白搭配,蓝色代表科技,白色代表圣洁,寓意对科学的敬仰。
辐射防护:
样品盖镶嵌铅板、铅玻璃屏蔽X射线。
辐射标志警示。
迷宫式结构,防止射线泄漏。
安全连锁设计;测试过程中误打开样品盖时,电路0.1μS快速切断X射线。
仪器经第三方检测,X射线剂量率*符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》。
硬件技术:
超短光路设计:提高无卤检测分辨率,提高样品分析效率,降低光管功率,延长仪器使用寿命。
模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率。
空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;*设计。
电路系统符合EMC、FCC测试标准。
快拆卸样品台,换薄膜更方便。
软件技术:
分析元素:Na~U之间元素。
分析时间:60~200秒。
配置RoHS检测分析模型、无卤分析模型和镀层厚度分析模型。
软件界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作。
YN ED Workstation V3.0软件拥有数据一键备份,一键还原功能,保护用户数据安全。
YN ED Workstation V3.0根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。
YN ED Workstation V3.0配备开放式分析模型功能,客户建立自己的工作模型。