介质损耗因数测试仪

ZJD-500介质损耗因数测试仪

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2024-09-29 08:22:44
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北京智德创新仪器设备有限公司

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产品简介

ZJD系列介电常数介质损耗因数测试仪详细介绍ZJD系列介电常数介质损耗因数测试仪用于测量电介质块体或薄膜样品在高低温、真空、气氛等条件下的介电常数和损耗、阻抗谱Cole-Cole图、机电耦合系数

详细介绍

ZJD系列介电常数介质损耗因数测试仪详细介绍

ZJD系列介电常数介质损耗因数测试仪用于测量电介质块体或薄膜样品在高低温、真空、气氛等条件下的介电常数和损耗、阻抗谱Cole-Cole图、机电耦合系数。ZJD系列介电常数介质损耗因数测试仪是电介质材料领域的测量仪器,具有快速、高效、灵活、易于操作等特点,适用于教学、科研等各种应用场合。

ZJD系列产品特性:

温度范围:-160,..1000°C (不同炉体)

测量频率:20Hz-30MHz (不同测量仪表)

集成化设计,操作更简单

自主设计新一代电学高温炉,控温精度高

最被业内认可的介电常数仪

符合标准:ASTMD150. D2149-97和T1409-2006

技术规格:

项目/型号

ZJD-500

ZJD-1000

ZJD-2000

温度范围

室温-500

室温-1000

-160℃-450

测量频率

20Hz-1MHz

20Hz-30MHz

控温精度

±1

温度测量精度

±0.1

测量精度

0.05%

控温方式

连续升温或分段升温

多段PID精确控温

升温斜率

0-10℃/mm(典型值3/min

降温斜率

0-10℃/mm(典型值3/min

测量环境

常温、高温、不带真空气氛

常温、高温、真空、气氛

常温、高温、低温、真空

样品规格

块体样品:φ<20mm,d25mm

薄片样品:φ<20mm,d21μm

单样品块体:φ<20mm,d25mm;四样品块体:φ<10mm

单样品薄片:φ<20mm,d21μm;四样品薄片:φ<10mm

测量原理

平行板电容器原理

测量方式

2线-4线测量方式

电极材料

铂金

显示控制

彩色触摸屏

数据接口

USB接口

通讯接口

-

LAN网口通讯

数据存储

TXT文本格式或XCEL格式(或安装office软件)

测量夹具

单样品夹具

单样品夹具或四样品夹具

测量样品

块体样品或双面电极薄膜样品

电极材料

铂金电极

控温方式

PID精确控温

配套设备

无需外接配套设备,仪器内置1MHz LCR测量板

需外接阻抗分析仪

需外接阻抗分析仪和低温液氮泵

供电

220V±10%,50Hz

工作环境

0℃-55

存储条件

-40℃-70

预热时间

30分钟

尺寸(长宽高)

475*415*610mm

640*470*610mm

550*420*330mm

重量

42kg

54.5kg

36.5kg

ZJD-500介电常数测试仪特点

内置20Hz~1MHz的精密LCR测量功能板,无需再搭配任何测量仪表;

■  采用管式炉膛设计,实现室温到500℃范围精确控温;

采用半球状+平板状的上下电极夹具系统,精确测量样品变相温度;

内置与1MHz测量仪表兼容的ZJD系列介电测量软件,可获得样品温度谱、频率谱等 测量曲线。

单样品块体夹具,一次测量一个样品,测量精度高;

上电极半球状+下电极平板状结构设计,可以精确定位测量被测样品,从而提高重复性和稳定性更好。

采用弹簧设计的夹具系统,改善可能因夹具装配误差而导致测量过程中接触不良的现象;

弹簧的弹性经过反复试验,既不损伤样品又能实现样品的良好接触,确保测量的稳定性和可靠性;

■“傻瓜式软件设计,具有简单易操作的软件界面,让新人也能轻松掌握;

■  具有强大的分析测量功能,直接测量样品的介电温谱、阻抗谱及ColeCole图,满足教学需求。

■  内置常用关键参数,用户很方便的得出样品的实验曲线,具有的易用性。

ZJD-1000介电常数测试仪特点:

全新的ZJD系列机型采用RAM嵌入式开发平台,可以进行在线升级、远程协助及故障诊断;

集成10.1”电容触摸宽屏显示,软件操作更加流畅,体验感更好;

高温炉、测量夹具、显示及软件集成于一体,测量精度会更高,仪器更加稳定且易维护;

控温和测量采用同一个传感器,保证样品每次采集的温度都是实际温度;

■ DMS介电测量软件集成世界主流阻抗分析仪或LCR表的驱动,扩展应用更加方便;

国内最初实现常温、高温、真空、流动气氛等多环境下测量材料的介电性能;

内胆采用进口金属材料,耐高温、抗氧化,可实现多种环境下的电学测量;

高温炉根据不同材质和加热元件,有1000℃1250℃两种加热炉可选;

采用三段PID精确控温,实现不同温度区间的精确控温,控温精度达到±0.5℃

全新的ZJD系列可实现1000℃1250℃两种高温环境下介电性能评估,且非常稳定可靠;

可实现介电温谱、介电频谱、阻抗温谱、cole-cole图、机电耦合系统、品质因数等测量功能;

可实现惰性气氛、氧化气氛、还原气氛、真空、流动气氛条件下测量材料的介电性能;

可与Wayne kerr 6500系列阻抗分析无缝连接,同时还与 Agilent/Keysight 4294AE4990AE4980A兼容;

提供单通道和4通道多种机型供用户选择,总有一款适合您;

采用半球状+平板状电极结构,可以精确定位测量样品某一点,让系统的重复性和稳定性更高;

高温条件下模拟导线屏蔽,可有效增加测试的频率带宽,减小电炉丝的交流干扰 ;

采用弹簧电极设计,既不损伤样品又能让电极与样品即使在高温下也能更好的接触 ;

高温炉、测量夹具、显示及软件集成于一体,测量精度会更高,仪器更加稳定且易维护;

■ 10年上百位科研人员不断发现问题,不断升级改造,才有您今天看到的成就;

 不断优化升级,确保测量夹具与仪器高度匹配,高可达30MHz的校准频率;

ZJD-1000系列机型在清华大学与进口Novoctrol公司产品进行比对后通过验收;

 所有机型出厂前都用纯钛酸钡进行高温校对温度,标准样品变相温度为128℃左右;

ZJD-2000介电常数测试仪特点:

测量温度范围:-160℃~400℃

快速降温,30分钟内降到-160℃

加热速率 0-20°C/min(典型值 3℃/min);

■ PID精确控温,控温精度达到±0.5℃

采用标准样品进行温度校对,确保铂电阻温度计测量温度是样品实际温度;

采用半球状+平板状电极结构,可以精确定位测量样品某一点,让系统的重复性和稳定性更高;

充分利用蓝宝石电绝缘、高强度、耐腐蚀、高热导率的特点用于电极夹具系统的绝缘和热传导设计;

采用弹簧电极设计,既不损伤样品又能让电极与样品即使在高温下也能更好的接触 ;

铂电阻传感器可移动的安装设计,让校对温度更加方便灵活;

8种工作模式任意切换;

一键启动,一键停止,无延迟即可停止;

流量可0-5L/min无级调速(其他流量可定制);

■ PID精确控温,控温精度达到±1℃

可长期浸泡于液氮或其他低温液体中,无冰堵现象;

采用全新的RAM嵌入式开发平台,可以进行在线升级、远程协助及故障诊断;

集成10.1”电容触摸宽屏显示,软件操作更加流畅,体验感更好;

可与Wayne kerr 6500系列阻抗分析无缝连接,同时还与 Agilent/Keysight 4294AE4990AE4980A兼容;

可实现惰性气氛、真空条件下测量材料的介电性能;

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