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显微镜特点：
EOC新推出的微分干涉相衬（DIC）作为一种特殊的分析检验方法，
所观察到的样品的相对层次关系突出，呈明显的浮雕状、对颗粒、裂纹、
孔洞以及凸起等能做出正确的判断，能够判断许多明场下所看不到的或难于
判别的一些结构细节或缺陷，是LCD液晶屏行业导电粒子压痕、粒子爆破检查、
晶圆研磨表面，磁头研磨表面及硬盘表面检测等行业的理想工具。
应用领域：
BA310DIC显微镜是定向适用于LCD生产领域主要运用于导电粒子爆破观察，
ITO工艺检测玻璃切割面检测等。采用德国光学设计，配置长距物镜，
自主研发的DIC观察组，可以干涉成像中清晰的观察到粒子开口状态，
广泛使用在TFT/TP/LCM行业。
