将基线和干扰元素校正(IEC)技术与电感耦合等离子体光学发射光谱法结合使用，以校正分析信号中来自等离子体、基质或分析物以外元素的贡献。如果没有对来自这些成分的贡献进行准确校正，则会导致分析结果错误。但是，这两种校正技术均依赖于内插或外推的校正因子。本文介绍了珀金埃尔默公司开发的多谱线光谱拟合(MSF)技术。