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面议光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 产品描述:
光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 是Microvision 一个专门用于显示设备测试响应时间模块,瞬变时间能达到10μs,可以用于测量OLED,QLED等新型产品的上升时间,下降时间,过冲Overshoot,运动模糊,灰度响应和频闪Flicker等,可以连接示波器显示测量结果,也可以配置相应软件进行结果分析。RTM可以单独安装在支架上进行单点测量,也可以安装在位移台上,用于自动测量显示屏的不同位置。
工作原理:
RTM是一个集成的光电二极管/放大器单元,安装在带有适当驱动电子元件的PC板上。它位于光学测量模块(OMM)最上面的位置,也是关闭的。透镜系统与CCD相机标准透镜系统相同,只是多了一个热镜。RTM镜头的光圈和焦距是可变的。热镜用来阻止任何红外线。热镜能阻止波长为700nm或更高的红外辐射撞击光电二极管。使用可 变数量的扩展器耦合允许选择大范围的放大。如果使用的扩展器耦合的数量等于CCD相机 中扩展器耦合的数量,则RTM探测器的放大倍数与CCD相机相同。 RTM还使用ADC板处理时态数据。RTM探测器可以由外部触发,也可以由内部触发。在这两种情况下,系统都可以在强度变化之前或之后立即存储和显示事件。RTM也可以作为一个独立装置使用。
产品亮点:
应用范围:
技术参数:
RTM 时间响应模块
光学响应时间测试仪-OLED响应时间测量仪-RTMHS 升级选项:
测试案例: