高精度光谱仪-高精度光谱辐射度计-Spectis8.0 产品描述：

高精度光谱仪-高精度光谱辐射度计-Spectis8.0 是一款的集成式光谱辐射计，配备了高灵敏度背薄式热电制冷CCD图像传感器，采用二氧化硅透射光栅和OSR杂散光抑制方法，可大幅减少杂散光，确保测试结果的高精度。此外，产品经过精确校准，可与其他设备结合使用，测量所有类型的光源，显示器以及LED灯，满足各种测量要求。

工作原理：

GL optic SPECTIS 8.0光谱辐射计采用光电技术，使用革命性的OSR方法/光学杂散光抑制方法，与传统的实验室测量设备相比，具有许多优势。镜/光栅/镜光谱仪平台使用二氧化硅透射光栅和背薄式CCD图像传感器。传感器和电子设备具有热稳定性，并且软件会不断监控基线水平。透射光栅提供了的透射性能和高扩散效率。这些特性允许设置非常短的积分时间，这对于高精度光源测量非常重要，并且可能是超快速生产过程控制应用中的关键因素。背薄式CCD Hamamatsu传感器在宽光谱范围内提供了很高的量子效率，有助于在UV，VIS和NIR范围内实现更准确和低噪声的光学测量。每个光谱辐射计都经过单独校准，并且在光谱校准过程之前，执行三个预校准阶段：(1)波长校准，(2)非线性校正和(3)光学杂散光抑制，可确保测试结果的高精度。该系统的高光学分辨率使其成为工业应用中窄带光源测量和快速光学测量的理想工具。LED，荧光灯或LCD显示器等不同的光源需要不同的光学探头。GL optic SPECTIS 8.0可以与其他设备结合使用，测量所有类型的光源，显示器以及LED灯，满足各种测量要求。

高精度光谱仪-高精度光谱辐射度计-Spectis8.0 技术参数：

• 波长范围：200-1050nm
• 传感器：背薄式CCD（带冷却 5℃）
• 像素：2048
• 光学分辨率：2.0nm
• 波长重复性：±0.2nm
• 积分时间：10ms~10s（自动模式）
• A/D转换：16bits
• 信噪比：2000：1
• 杂散光：2*10E-4
• 光谱辐射精度：± 2%
• 色度精度：x,y ±0.001
• 照度范围：1~200,000 lx
• PC界面：USB 2.0
• 数据格式：XML
• 外部电源适配器：输入:AC 100~240V（50/60Hz）0.15A 输出:DC 12V 5A
• 操作温度：5~35℃
• 尺寸：270mm x 180mm x 325mm
• 重量：4.8kg

高精度光谱仪-高精度光谱辐射度计-Spectis8.0 升级选项：

• GL Opti Sphere
• GL Opti Probe
• GLG 4-500/30-1800