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太阳能硅片检测显微镜DJM-300C
一、DJM-300C太阳能硅片检测显微镜的特点和用途:
DJM-300系列太阳能硅片检测显微镜，选用优质的光学元件，配有超大视场目镜、落射照明器、平场长工作距离明暗场物镜，是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用。可进行明暗场观察、落射偏光、广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。系统配置了优质无限远光路系统、三目透反射显微镜DJM-300C、500万高清晰数字摄像头及图像测量管理软件，可对太阳能电池板图像进行检查、拍照、测量、编辑和保存输出等多种操作。是太阳能电池硅片检查的理想仪器。
性能特点：
1、采用了较的光学显微镜与现代成像分析融为一体的图像测量技术。
2、可对太阳能电池硅片进行检查、拍照、测量、保存、输出等多种操作。
3、系统配置了优质无限远光路系统、大尺寸工作台的三目透反射显微镜
4、可以测量太阳能电池片裂纹长度，崩边长度角度，印刷位移角度偏差
5、可以测量主、副栅线，背电极的宽度、均匀度、栅线间距离及副栅线
到电池边的距离，栅线、断线长度，断线缺损和变色的面积
6、可以检查太阳能电池表面颜色色差、绒面色斑亮斑，裂纹，崩边，掉
角缺口，印刷偏移主副栅线、背电极的断线，缺损，扭曲，变色等现象。
7、可对杂质、残留物成分进行分析。杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂
质、金属离子、硅粉粉尘等。
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二、太阳能硅片检测显微镜DJM-300C的技术参数:
型号 技术规格 目镜筒 铰链式三目镜,倾斜30˚,内置检偏振片,可进行切换 ；瞳距调节范围 55-75mm,屈光度±5可调。 目镜 WF10X(Φ22mm) 物镜 无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL 5X/0.12 工作距离:26.3mm 无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片)PL L10X/0.25 工作距离:20.2mm 无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) PL L40X/0.60（弹簧） 工作距离：3.98 mm 无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) PL L60X/0.70（弹簧） 工作距离：3.18 mm 无限远长距平场消色差物镜(无盖玻片) PL L100X/0.85（弹簧） 工作距离：0.40 mm 落射照明系统 6V 30W卤素灯,亮度可调 落射照明器带 (黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃 视场光栏和孔径光栏大小可调节，可插入式起偏振片，可进行偏光观察和摄影 透射照明系统 阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降 。蓝滤色片和磨砂玻璃 集光器，卤素灯照明适用(内置视场光栏) ，6V 30W 卤素灯,亮度可调 调焦机构 粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置 转换器 五孔(内向式滚珠内定位) 载物台 双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm) 电脑摄像系统 1X摄影接口，标准C接口， CK-500数字摄像系统，分辨率：2592X1944， 芯片尺寸：1/2.5"， USB2.0连接, 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CK-500摄像机介绍） 测量软件功能： 1、可进行图像尺寸、亮度、增益、曝光、RGB颜色等多种处理方法。 2、当前图像放大、缩小、剪切、背景等设置。 3、对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观。是显微图像测量与分析的有效工具。
三、系统的组成 ：
1、太阳能硅片检测显微镜DJM-300 2、电脑适配镜
3、彩色数字摄像机CK-500 4、计算机(选购)
