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二、仪器的主要技术指标:
1.显微镜技术参数:
名 称 | 规 格 |
总放大倍数: | 40X---630X |
无应力消色差物镜 | 4X/0.1 |
10X/0.25 | |
25X/0.40 | |
40X/0.65 | |
63X/0.85 | |
目镜
| WF10X/18mm |
10X网格目镜 10X分划目镜 10X刻度目镜 | |
试片 | 石膏1λ试片 云母1/4λ试片 石英楔子试片 |
测微尺 | 0.01mm |
滤色片 | 蓝色 |
聚光镜 | N.A.1.25带可变光栏摇摆式聚光镜 |
集光镜 | 高亮度固定式照明 |
载物台 | 直径160mm,360°高精度等分刻度圆型旋转载物台,游标格值6’,中心可调,带锁紧装置 移动尺:移动范围30mm×40mm |
镜筒 | 45度平拉式三目观察(52mm-75mm) |
光源 | 卤素灯(6V/20W.AC 85V-230V)亮度可调 |
电脑摄像系统 | 1X摄影接口,标准C接口 CK-300数字摄像系统,分辨率:2048X1536, 芯片尺寸:1/2", USB2.0连接, 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定,有多种图像处理方式(详细参数见CK-300摄像机介绍) |
CK-400型偏光热台是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学而研制。与光学或电子显微镜配合使用,在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。
加热台由精密温度控制仪和载物恒温工作台二部分组成,二者由一5芯线缆插口连接,载物恒温工作台置于光学或电子显微镜载物台上。特别适用配合偏光显微镜构成偏光熔点测量系统。
三、熔点仪技术参数:
1)输入电源: 交流170~264V 50/60HZ 2)热台加热工作电源:直流 24V 5A
3)功耗:260W 4)温度范围:室温——420℃
5)热台外体温度:热体400℃;室温25℃时≤70℃ 6)工作方式:连续
7)热体载物重量:200克 8)精度:测量精度:全范围≤±0.5%
9)升温速度:室温——100℃ ≤80秒 室温——200℃ ≤300秒
10)系统波动度:±1℃
11)升温速度达400℃时间: 10min
12)可设置升温速度范围:0.1——0.5秒/℃
13)即刻恒温响应时间: ≤0.01秒
14)加热板圆盘直径99mm;厚度12mm 15)有效加热范围41mm;通光孔直径3.8mm
四、系统组成:
1、偏光显微镜XPR-500 2、摄像机接口
3、彩色数字摄像机CK-300 4、偏光热台CK-400