测温冲击普测试仪器/冷热冲击试验仪器厂家适用于半导体、电子电器零组件、化学材料、金属材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、及高分子材料之物理变化的理想测试设备。本设备可实际温度定值或程序控制，爱佩采用流行的制冷控制模式，可以0%~*自动调节压缩机制冷功率，较传统的加热平衡控温模式耗能减少30%。制冷及电控关键零配件均采用*，使爱佩品牌的半导体冷热冲击试验箱与半导体冷热冲击试验机的整体质量和稳定性得到了提升和保证。本公司还可以根据顾客的尺寸要求及温度范围定制。
测温冲击普测试仪器/冷热冲击试验仪器厂家因为温度可以随时变化做试验，所以也能称它为温冲温变箱。此设备的主要特点是温度试验可以设定快速冲击及快速变化，zui快可以在3秒钟内从高温变到低温，5分钟内完成冲击效果。破坏能力*，功率比普通高低温试验箱高出许多倍。所以技术难度及成本也相对高许多。该试验设备主要用于对电工、电子产品，以及其元器件等各类产品按照国家标准要求或用户自定要求，在高温与低温瞬间变化条件下，对原产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟试验，试验后，通过检测，来判断相关产品的性能是否仍然能够符合预定要求，以便供各类产品的设计、改进、鉴定及出厂检验用。
的技术参数：
▲保温材质 耐高温高密度氯基甲酸乙醋泡沫绝缘体材料
▲系统 P．I．D + S．S．R + 微电脑平衡调温控制系统
▲冷却系统 半密闭式双段压缩机（水冷式）／全密闭式双段压缩机（风冷式）
▲安全保护装置 无熔丝开关、压缩机高低压保护开关，冷媒高压保护开关、故障警告系统，
▲电子警报器
▲配件观视窗（特殊选购型）、上下可调隔层两片、通电测试孔、脚轮、水平支架
▲电 源：AC380V 50Hz／60Hz 3 
▲尺寸可选择:W×H×D:40×35×30（cm）；50×40×40 （cm）；60×50×50 （cm）；70×60×60（cm）更大尺寸可非标定制。
▲升温时间（蓄热区）：RT～200℃约需35min
▲降温时间（蓄冷区）：RT～-70℃约需85min
▲温度回复时间／转换时间：≤5min内 / ≤l0秒内
▲温度控制精度／分布精度：±0.5℃／±2.0℃