产品介绍：

开尔文测试夹 KEZ 60，KEZ 60测试夹 可根据四线欧姆或Kelvin测试方法测试低欧姆量程的电阻。

主要功能：

配有四线夹具的 Kelvin Clamp KEZ 60 适合测试低电阻大尺寸样品的电阻值。

特别设计了 10 mm和 60 mm的安全触点。

量程从一微欧姆至一百万欧姆。

zui大测试连续电流不超过 1 A。

zui大测试短暂电流不超过 10 A。

连接测试仪器 Milli-TO 3 和 MO 3 时，连续操作测试电流可高达 1 A。

参考数据：

根据四线欧姆或Kelvin配有四线夹具

触点面积直径：10~60 mm

zui大测试电流：10 A

量程：10-6至106 Ohm

配有4个香蕉插头的 1 m长连接线

4 mm触点保护