confovis  WAFERinspect AOIAOI测量系统

公司简介

onfovis 是工业应用光学 3D 测量系统的系统供应商。自 2009 年以来，该公司一直专注于面向客户和应用的解决方案。Confovis获得的“结构照明显微镜”共聚焦显微镜为工业应用的快速和纳米级表面分析开辟了新的前景。使用新一代的测量系统, Confovis 在单个系统中结合了共焦测量技术和焦距变化。通过这样做，测量设备专家为汽车和航空航天、工具制造和机械工程、冶金、半导体和光学行业的行业客户提供了一种节省时间和成本的解决方案，用于大多数不同的测量任务，例如微轮廓测量和粗糙度测量溯源到认证标准，按照有效的规范onfovis 是工业应用光学 3D 测量系统的系统供应商。自 2009 年以来，该公司一直专注于面向客户和应用的解决方案。Confovis获得的“结构照明显微镜”共聚焦显微镜为工业应用的快速和纳米级表面分析开辟了新的前景。使用新一代的测量系统, Confovis 在单个系统中结合了共焦测量技术和焦距变化。通过这样做，测量设备专家为汽车和航空航天、工具制造和机械工程、冶金、半导体和光学行业的行业客户提供了一种节省时间和成本的解决方案，用于大多数不同的测量任务，例如微轮廓测量和粗糙度测量溯源到认证标准，按照有效的规范

产品简介

快速共焦 3D 测量– 不受材料影响

2D 测量：关键尺寸：线/空间、支柱、覆盖（Halcon、Cognex-Software）

高度自动化：从晶圆处理到结果

通过SECS/GEM向主机提供详细信息

通过精细对准、KLARFF 文件和简单的操作模式进行目视检查

产品型号

confovis  WAFERinspect AOIAOI测量系统