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波谱校正片波谱校正片,牛津校正片
镀层测厚仪X-Strata920 、 CMI900 波谱校正片 参考价面议 -
面铜标准片面铜标准片,标准片
CMI700的面铜标准片 参考价面议 -
ETP孔铜标准片ETP孔铜标准片,标准片,牛津片,孔铜测厚仪,面铜测厚仪
牛津仪器CMI760、CMI500的孔铜标准片 参考价面议 -
探测器探测器,牛津探测器
牛津仪器X-Strata920、CMI900探测器 参考价面议 -
X-MET-7000系列RoHS及元素分析,元素分析仪
广泛应用于元器件、玩具、消費性電子產品有害物元素分析、金屬廢料回收、合金分类鉴定、矿石分析、土壤分析等。 参考价面议 -
CMI730涂层测厚仪CMI730,油漆测量仪,牛津膜厚计,绿油测厚仪
涂镀层测厚仪CMI730系列采用磁感应和电涡流模式能为磁性基材上的非磁性涂/镀层和电镀镍层、导性基材上的非导性涂/镀层提供高科技的无损涂镀层厚度检测 参考价面议 -
CMI153涂层测厚仪CMI153
牛津仪器CMI153用于测钢铁及有色金属底材上的涂层厚度，具有电涡流和磁感应测量技术自动选择的双功能。 参考价面议 -
CMI243涂层测厚仪CMI243
手持式涂层测厚仪CMI233测量黑色金属底材上的金属镀层厚度，用于紧固件、螺栓、汽车部件、齿轮、管件等表面镀层。 参考价面议 -
CMI233涂层测厚仪CMI233
手持式涂层测厚仪CMI233是高科技电子技术和软件的Z佳组合，适用于恶劣的工作环境。 参考价面议 -
CMI563面铜测厚仪CMI563,孔铜测厚仪,镀金膜厚仪,电镀膜厚测试仪
牛津仪器CMI563系列专为测量刚性及柔性、单层、双层或多层印刷电路板上的表面铜箔厚度设计。 参考价面议 -
CM95铜箔测厚仪CM95
牛津仪器测厚仪器部（OICM）推出了新产品：CM95——一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪，它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度，范围从1/8到4.0盎司/平方英尺（5-140微米）。 参考价面议 -
CMI165面铜测厚仪CMI165,孔铜测厚仪,铜厚测量仪,镀层膜厚仪
CMI165是一款人性化设计、坚固耐用的世界带温度补偿功能的手持式面铜测厚仪。 参考价面议