密封试验仪实验过程中泄露的常见原因及解决办法
时间:2017-07-20 阅读:401
密封试验仪实验过程中泄露的常见原因及解决办法
作者:济南精基
包装袋泄露常见原因及解决办法(由MFY-3密封试验仪进行检测的结果)
原因 | 泄露情况 | 解决办法 |
薄膜原因:
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压穿,漏封; 压穿; 漏封; | 清洁、调换所用薄膜 |
热封模具原因:
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压穿 压穿、漏封 压穿、漏封 | 修理热封模具,调整设备平行度 |
工艺原因:
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压穿 漏封 压穿 漏封 压穿 漏封 | 更改相应压力、温度和速度参数 |
内容物污染封口部位 | 漏封 | 调整设备参数,防止内容物污;使用抗污染物薄膜 |