梅特勒 XS205DU分析天平

XS205DU梅特勒 XS205DU分析天平

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2018-05-15 14:40:26
4156
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湖南中仪器材进出口有限公司

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产品简介

XS205DU分析天平主要特点:
采用高精度、高分辨率后置式传感器,获得准确称量结果
全自动校准技术(FACT) - 温度漂移触发的天平自动内校,内置两组砝码实现线性误差校准,确保称量结果的准确性
变量程设计(DeltaRange)和双量程(DualRange)设计,满足客户对不同样品的称量需求
革命性的网格称量盘(SmartGrid)、悬浮在称量室中的后挂称量设计,获得快速、稳定的称量结果

详细介绍

量程 双量程
可读性 0.01/0.1mg
zui大称量值 81/220g
zui大称量值重复性(s) 0.1mg
10g重复性(s) 0.02mg
线性 ±0.2mg
1/2zui大称量1)四角误差 0.3mg
灵敏度漂移 0.0004%
灵敏度温度漂移2) 0.00015%/℃
灵敏度稳定性3) 0.0002%/a
典型称量时间4) 6s
接口更新速率 23/s
防风罩有效高度(mm) 235
秤盘尺寸(mm) 78×73
天平外形尺寸(W×D×H)(mm) 263×453×322

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