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梅特勒-托利多 微量天平 电子天平介绍：
昂贵样品的安全之选
梅特勒-托利多XP2U是一台创新的超微量天平：提供的称量性能，用户友好界面和质量标准。XP2U超微量天平具有21,000,000的至高分辩率。SmartScreen彩色触摸屏、可设置的显示界面、智能用户向导、以及无需用手接触的SmartSens红外感应器控制的防风罩，使这种高精度天平比以往更快、更容易、和更高效。
梅特勒-托利多XP6微量天平和XP2U／XP6U超微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计，同时确保网络兼容性。
如需获得支持或报价，请点击相应的按钮。我们会直接把您的需求发送给当地的销售代表；他将为你提供所需的信息。
梅特勒-托利多 微量天平 电子天平的特点：
MinWeighzui小称量值功能：当低于已设定的zui小称量值，天平就会发出警告（需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场激活）
proFACT专业级全自动校准技术：温度漂移和时间触发的全自动内置砝码校准和线性校准
BalanceCheck天平校验功能：自动提示用户使用外置砝码校验天平
8个用户界面，具有密码保护功能
符合GxP规范的报告输出
存储并打印校正和外部测试报告，包括日期和时间，所有系统和砝码参数，测试结果和签字行
极限值 XP2U zui大称量值 2.1 g 可读性 0.0001 mg 重复性（sd） - 加载处 0.00025 mg - 低加载（加载处） 0.0002 mg （0.2 g） 线性误差 0.001 mg 灵敏度漂移 1.5 x 10-5 灵敏度温度漂移 2） 0.0001 %/°C 灵敏度稳定性 3） 0.0001 %/a 典型值 4） 典型重复性（sd） 0.00015 mg+2.5 x （10–8）· R_gr 典型微分非线性（sd） √8x（10-14） · g · R_nt 典型灵敏度偏移（sd）2） 3x（10-6）· R_nt 典型zui小称量值*（符合USP） 0.45 mg+7.5 x （10–5） · R_gr 典型zui小称量值* （@ U=1 %, 2 sd） 0.03 mg+5 x （10–6） · R_gr 典型稳定时间 < 10 s ） 根据OIML R76 2） 在10到30°C的温度范围内 3） *次安装，使用proFACT校准，灵敏度稳定性 4） 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重（样品质量） a=年 * 重复性和zui小称量值可以通过以下措施得以改进：- 选择适当的称量参数设置，- 选择合适的天平放置位置，- 使用较小的去皮容器。
