在薄膜制造及加工业，检测薄膜的厚度是常见的薄膜检测指标之一。对涂层厚度的检测将有利于有效控制薄膜各层的厚度均匀性，但对于多层薄膜若想测量每一涂层的厚度，在相应的厚度检测设备上就需要有非常大的投资，并随着薄膜层数的增长而加大，给企业带来较大的经济负担。比较经济的方式是对部分价格昂贵的涂层材料进行涂层厚度的检测，同时加强对薄膜整体厚度的测试以达到有效控制其他各层材料厚度均匀性的作用。

    对于薄膜厚度测量，济南三泉中石实验仪器有限公司一直持续加大研发投入和不断致力于技术创新。台式测厚仪CHY-5专为测量薄膜厚度的仪器，精度极其高，应用甚广，尤其适合厚度要求达到纳米级的透明多层物体的厚度测量。

测量薄膜厚度的仪器 台式测厚仪CHY-5

    济南三泉中石实验仪器有限公司研发生产的测量薄膜厚度的仪器满足GB/T6672（塑料薄膜与薄片厚度的测定机械测量法）标准要求,下面,台式测厚仪研发部工程师简单介绍PET薄膜厚度测量方法；

    1.设置好的实验参数、实验次数等参数信息。

    2.点击开始试验键，开始实验

    3.不在测量头与砧板间放置任何物体，点击确定，测量头自动落下后可与砧板直接接触

    4.当测量头再次抬起时，按照设备提示，将试样放置在测量头与砧板之间，点击确定，

    5.厚度测量仪测量头自动落到试样表面进行测试，并显示测试结果

    6.此后，可手动或由设备移动试样，完成剩余测试。

    7.保存并打印实验结果。