仪器用途：

LW400JT适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查；也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。

性能特点

1、 配置大视野目镜和长距平场消色差物镜(无盖玻片)。

2、配置移动载物台

3、粗微动同轴调焦机构，粗动松紧可调，带锁紧和限位装置，微动格值:2μm。

4、6V 20W卤素灯,亮度可调。

5、三目镜筒,可切换正常观察与偏光观察，可进行99%透光摄影。

主要技术参数：

1、三目镜筒：倾斜30 °，瞳距55mm-75mm，视度±5°

2、目镜：WF10X/18mm

3、长距平场消色差物镜(无盖玻片)

PL 5X/0.12 、PL L10X/0.25 、PL L20X/0.40

PL L40X/0.60 、PL L80X/0.8

4、总放大倍数：50X-800X

5、载物台：尺寸: 280mm×270mm,移动范围: 204mm×204mm

6、调焦：粗微动同轴 升降范围25mm

微动格值0.002mm

7、反射光 源：12V20W亮度可调，落射照明器带视场光栏、孔径光栏、起偏振片,(黄,蓝,绿)滤色片和磨砂玻璃

8、正交偏光装置

1、目镜：WF16X/11mm，WF20X/9mm，

10X带尺可调目镜

2、长距平场消色差物镜(无盖玻片)

PL L 50X/0.70、 PL L 60X/0.75 (弹簧)、 PL L 100X/0.85 (弹簧)

平场消色差物镜(无盖玻片)： PL 100X/1.25 (弹簧,油)

3、成像系统：数码摄像头500万、800万、1600万相素
4、测量软件，金相分析软件等