奥林巴斯XRF手持式矿石分析仪拥有优良的检测性能，可以快速、可靠的在现场实时提供样品元素分析数据，助力用户轻松确定土壤、岩石和矿石中的多元素特性。XRF技术创新发展模式，让奥林巴斯手持式矿石分析仪扩大了测试元素的范围，降低仪器检出限和检测时间。

奥林巴斯手持式矿石分析仪Vanta VMR XRF矿石分析仪在金矿上和金矿科研中，可以快速精准地分析黄金矿石中种类多样且繁杂的样本，并且可对提炼过的黄金样品快速准确的分析其中的元素信息。

优势特性：

1.通过对土壤、钻屑和钻芯中元素的XRF分析探测，可以更快勘察到潜在金元素矿化情况。

2.使用手持式矿石分析仪可对样本进行快速筛查，可以极快获得样品元素信息，可以合理使用分析出的信息，以及可以可靠确定钻井的区域。

3.通过XRF技术能呈现结构特性映射图，更快捷敏锐地分析到矿化蚀变区域，让用户能获取更多矿床信息，帮助客户可靠确定以及更好完成建模和定向工作。由于减少稀释方式使用，可以获得更好金采收量。

4.在岩石地球化学应用中使用XRF技术，可以迅速、低成本为岩石进行快捷分类。

5.用于在采矿勘探和矿体定向应用中，更精准可靠地分析金元素和金探途元素的手持式矿石光谱分析仪。

金矿床的相关地球化学特征

探途元素和蚀变地球化学

大多数金矿床都有其特定的地球化学特征（如上表所示）。XRF矿石分析仪可以分析出这些地球化学特性，帮助地质研究者了解更多所勘察的地质系统信息。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。

常见金探途元素的典型XRF检出限（Vanta VMR型号地球化学模式）

*每个光束拥有120秒的检测时间，无干扰的二氧化硅基质；请参阅奥林巴斯有关检出限的文件，了解有关更低检出限的详细探讨说明。

用于探测金元素的手持式矿石光谱分析仪

，手持式矿石光谱分析仪不能对地质样本中低含量的金元素进行直接检测（如：低ppm和ppb值）。基于实验室的火试金法被普遍认为是分析金元素的方法。金元素的L线处于X射线荧光能量频谱非常拥挤的区域。在频谱这个区域中，会有来自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干扰，使分析仪错误的判断金元素，提供错误的信息。

不过，在某些特定情况下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脉环境（相对来说没有干扰）或在精炼的金产品中（金元素有较高含量），可使手持式矿石光谱分析仪对金元素直接进行分析。

在金矿上，更多实验室正在使用XRF技术替代或补充火试金法，对矿石进行检测分析。请参阅奥林巴斯应用注释“在金矿实验室中使用手持式XRF矿石分析仪”。在矿山上，工作人员也会使用奥林巴斯手持式XRF矿石分析仪检测活性炭中的金元素。请参阅奥林巴斯应用注释“检测活性炭中的金元素”。

图像由Arne等提供（2014） – 在金元素勘探中对来自便携式XRF分析仪的资产规模数据的使用 – 优势和局限性，地球化学：勘探，环境，分析。

来自加拿大的金元素勘探项目，XRF分析仪在野外绘制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值线图对比ICP分析。

VANTA光谱分析仪技术规格

外型尺寸（宽 × 高 × 厚）：8.3 × 28.9 × 24.2 cm

重量：带电池时1.70公斤；不带电池时1.48公斤。

激励源：4瓦特X射线管，其根据不同应用而优化的阳材料包括铑（Rh）、银（Ag）和钨（W）。

M系列（Rh和W）和C系列（Ag）：8 ～ 50 kV

C系列（Rh和W）：8 ～ 40 kV

主光束过滤：每个模式每条光束有8个位置的自动选择过滤器。

探测器M系列：大区域硅漂移探测器。

C系列：硅漂移探测器。

电源：可拆装的14.4 V锂离子电池或 18 V电源变压器，100 ～ 240 VAC，50 ～ 60 Hz, 大70 W。

显示：800 × 480 (WVGA)液晶电容式触摸屏，可使用手指进行控制。

操作环境：温度：–10 °C ～　50 °C（带可选风扇时，可连续工作）。

湿度：相对湿度为10 % ～ 90 %，无冷凝。

坠落测试：通过了美军标准810-G的1.3米高坠落测试。

IP评级：IP65*：防尘，而且可防止来自各个方向的水喷。

压力校正：内置气压计，用于海拔和空气密度的自动校正。

GPS：嵌入式GPS/GLONASS接收器。

操作系统：Linux。

数据存储：4 GB嵌入存储，带有microSD卡插槽，可扩展存储容量。USB 两个USB 2.0 A型主端口，用于诸如Wi-Fi、蓝牙和USB闪存驱动盘等配件。一个USB 2.0袖珍B型端口，用于连接计算机。

Wi-Fi：通过可选购USB适配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz）。

蓝牙：通过可选购USB适配器，支持蓝牙和蓝牙低能功能。

瞄准摄像头：全VGA CMOS摄像头。

全景摄像头：5百万像素CMOS摄像头，带自动聚焦透镜。