离子迁移测试系统

离子迁移测试系统可用于助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料、BGA、CSP等精细节距IC封装件、有机半导体相关（有机EL)、电容、连接器等其他电子元器件及材料、各种绝缘材料的吸湿性特性评估。

离子迁移测试系统自主开发连续通电扫描继电器方式，配备国际标准的测量仪表，与环境试验箱联动，操作更简便更安全。标配 100V 应力电压（应力电压 / 测量电压），更有 1000V、2500V 高电压规格可选。高速准确捕捉离子迁移现象发生的细微变化，离子迁移实时监测。「E-Graph」可实时编辑预览监测实时获得的数据。选配可使连接试样及线缆更方便，试验效率更高

离子迁移测试系统广泛用于印制电路板、阻焊油墨、绝缘漆、胶粘剂，封装树脂微间距图形、IC封装材料等绝缘材料性能退化特性评估，以及焊锡膏、焊锡丝、助焊剂、清洗剂等引起的材料绝缘性能退化评估。

该系统能够充分满足IEC、EIA、IPC、GB、GJB、QJ等相关测试规范，通过将评估试样置于高压、高温高湿环境下，通过实时监测材料绝缘阻抗的变化，记录相关数据和曲线，帮助使用人员对材料特性进行量化分析。

主要应用行业：通讯设备、船舶汽车、计算机、航空**、半导体，印制电路板等。

MIR绝缘电阻测试系统主要特点如下。

●可灵活选择的测试通道数，系统可提供32*n（n=1，2...）不同数量通道。以应对不同批量试样的测试。

●系统模块化结构

●高精度绝缘电阻测试.

●系统集成试验箱温湿度测试（选配）

●Slot测试参数独立设置

●测试电缆检测

●绝缘电阻和漏电流校正

●偏置电压极性可变换（选配）

●灵活的迁移条件设置

●漏电验证测试

●测试过程多画面显示，易懂易操作。

●高速漏电流监测

●样品失效保护

●测试中可以修改测试时间

●测试中途暂停,中断/继续

●测试数据自动保存

●独立的数据分析和报告软件

●测试报告一键输出。