产品简介
背散射电子图像分辨率：3.0nm@30keV（低真空模式）二次电子图象分辨率：3.0nm@30keV加速电压：0.2~30kV放大倍数：2~1,000,000x仪器种类：钨灯丝TESCAN集成式矿物分析仪（TIMA）是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜，适用于采矿和矿物加工行业
详细介绍
背散射电子图像分辨率：3.0 nm @ 30keV（低真空模式）
二次电子图象分辨率：3.0 nm @ 30keV
加速电压：0.2~30 kV
放大倍数：2~1,000,000 x
仪器种类：钨灯丝
TESCAN集成式矿物分析仪（TIMA）是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜，适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。
TIMA的应用范围很宽，包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的技术是基于一个集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了的数据采集速度，进而得到快速、准确和可靠的结果。
TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计（电子枪的恒真空与隔绝阀）提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准，低真空模式为选配。
大样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32 mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒（BSE信号校准）与锰、 铜、 石英、碳和金元素（系统性能检查）。标准校准的元素可以根据客户要求定制。
软件标配：
分析&测量
柱状图
图像处理
3维扫描
硬度测量
多图像校准
对象区域
定时关机
公差测量
定位
Live Video
EasySEMTM
软件选配：
根据实际配置和要求
配件：
二次电子探头
背散射电子探头
探针电流测量
压差式防碰撞报警装置
可观察样品室内部的红外线摄像头等，各种配件可供选择
