一、试验满足标准：

1、GB/T2423.2-2008（IEC60068-2-2：2007）高温试验方法 Bb

2、GJB150.3-1986 高温试验

二、产品特点：

1、支持SATAI/II/III的测试；

2、支持SATA的测试片数定制如100片、150片、200片、400片等；

3、支持研发微小型定制化，例如：2片、6片等等；

4、支持室温+150°C的试验；

5、支持自动化温控设备；

6、支持全部采用软体进行智能化控制测试；

7、支持测试软体的定制化，支持箱内风速与为温度平衡；

8、支持PICIE / EMMC / UFS / DRAM / FLASH 老化的定制性研发；

9、支持网络化控制，可以异地控制测试着并且看测试结果；