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T 350S镀层测厚仪
下照式带移动平台
l高精度 XY 样品台 l十字线自动调整 | l可选择 X 射线管 l超大 / 开放式的样品台 |
T350S 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
产品性能
稳定性 : T350S有着良好的长期稳定性,不需要经常校准仪器。
无需制备样品 :无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
综合性能 :镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能
技术参数
测量元素范围 | 铝(Al)- 铀(U) |
探测器 | SDD |
种类 | 固定型 |
固定种类大小 | □ 0.5mm □ 0.2mm |
光路系统 | 垂直照射 |
放大倍数 | 光学 40-60× |
显示模式 | 元素频谱显示 |
元素显示 | 标签图案显示 |
指标显示 | 显示元素及测量数値 |
摄像头 | 高清晰工业摄像头 |
放大功能 | 局部倍大 |
视窗大小 | 无级别式视窗大小 |
应用 | 单镀层,双镀层,合金镀层,电镀液 |
输入电压 | AC220V±10% 50/60HZ |
通讯方式 | 高速 USB 传输 |
温度控制 | 前置放大及机箱温度控制 |
外观尺寸 | 410*400*330mm |
腔体尺寸 | 368*324*95mm |
探测器道址 | 4096 道址 |
温度控制 | 自动前置放大温度控制 |
X 射线管 | £大功率铍光管 £高精度微聚焦光管 |
高压 | 0-50kV(程控) |
管电流 | 0-1mA(程控) |
目标靶 | W 靶 |
操作模式 | 高精度手动调节 |
位置控制 | 高精度 XY 轴定位 |
测试时间 | 10-40s |
软件特性 | FP 算法,自动判断故障及校正,自动补偿算法 |
应用领域
可用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED 支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品多个行业表面镀层厚度的测量及材料分析,低成本、高效率。
电子行业 | 五金电镀行业 |
l确保元件可靠性,测量焊料合金成分和镀层厚度 l优化质量控制,确保产品生命期 如:分析导电性镀层金、钯厚度;测量电脑硬盘上的 NiP 层的厚度 | l快速简单的分析,同时进行单层或多层镀层厚度测量和成分分析 l最多分析 4 层镀层 |
工作特点
²测量5层 (4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线
²测量精度高、稳定性好,测量结果精确至uin
²快速无损测量,测量时间短,10s 内得出测量结果
²可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析
²材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析
²强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、最小值等
²结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel 文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等
²测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30 倍
²提供服务及技术支持
系统安全性
²简单用户界面只向日常操作员设定有限的
²主管人员可进行系统维护
²系统自动生成操作员的使用记录
²自动锁定功能防止未的操作
²样品室门开闭传感器
²X射线警示灯
²前面板安全钮