T 450S镀层测厚仪

下照调焦式带移动平台

T450S 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析， 同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

产品性能

稳定性 : T450S 有着良好的长期稳定性，不需要经常校准仪器。

无需制备样品 :无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

综合性能 :镀层分析定性分析定量分析镀液分析统计功能

技术参数

应用领域

可用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED 支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品多个行业表面镀层厚度的测量及材料分析，低成本、高效率。

工作特点

²测量5层 (4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线

²测量精度高、稳定性好,测量结果精确至uin

²快速无损测量,测量时间短,10s 内得出测量结果

²可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析

²材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析

²强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、最小值等

²结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel 文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等

²测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30 倍

²提供服务及技术支持

系统安全性

²简单用户界面只向日常操作员设定有限的

²主管人员可进行系统维护

²系统自动生成操作员的使用记录

²自动锁定功能防止未的操作

²样品室门开闭传感器

²X射线警示灯

²前面板安全钮