高低温热流仪TC65系列高低温热流仪是精密气流温度循环冲击系统； 具有更广泛的温度范围-65℃到+220℃，提供了*的温度转换测试能力；超快速升降温控制系统，在+125℃到-50℃之间转换速率仅需10秒 ；纯机械制冷，无需液氮或任何其他消耗性制冷剂经济环保；输出气体流量无级可调，可实现更精确的流量冲击及温度控制；可选择配置流量，极限低温，控制方式以及功率尺寸使用场景更灵活。

热流仪输出气流罩将被测产品罩住，形成一个较密闭的测试腔体，测试机输出可程控流量的高温或低温气流，使被测产品表面温度发生剧烈变化，从而完成高低温测试。

GB/T 2423.1-2008试验A：低温试验方法；
GB/T 2423.2-2008试验B：高温试验方法；
GB/T2423.22-2012试验N: 温度变化试验方法；
GJB/150.3-2009高温试验；
GJB/150.4-2009低温试验；
GJB/150.5-2009温度冲击试验；

可针对众多元器件中的如下某个单独元器件，将其独立进行高低温循环测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验等，而不影响其他周边元器件，与传统冷热冲击箱相比温变冲击速率更快。
1、半导体芯片；
2、闪存Flash/EMMC
3、PCBs、IC器件、MCMs、小型模块组件
4、光通讯（如收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）
5、其它电子行业