Seinan industries SE-HAEMD霍尔效应测试仪是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性*的工具。

Seinan industries SE-HAEMD霍尔效应测试仪概要
半导体样品的基本物理性能评价系统
设定好样品后，通过连接的PC机的操作执行控制，显示电阻率、携带型载流子浓度和迁移率的计算结果。
弹簧板探头保证了电接触，所以不需要电线本田
我们将根据您的研究和使用条件进行设计和生产

Seinan industries SE-HAEMD霍尔效应测试仪设备配置和规格 
　计量系统的主要单位
　　直流电流源和直流电压表是独立的。
　　稳定而良好的测量
　　用范德宝法测量
　　通过磁场的自动反转机构进行自动测量。
　样品架
　　通过探针类型轻松交换样品
　磁铁
　　低漏磁的永磁体
　　磁场强度可以通过选项改变。
　　磁场强度可以通过选项改变。
　计量
　　设定参数后，全自动测量，包括磁场旋转。
　　测量和计算
　
　直流电流源
　　最大输出：±200mA
　　低分辨率：100nA
　　输出噪声：30nAp-p以下(3mA, 1kΩ)
　　几毫安范围，DC-100Hz低频噪声。
　直流电压表
　　最大允许输入电压：1kV
　　低分辨率：100nV
　　100mV范围
　　输入阻抗：1GΩ
　　100mA范围
　　显示位数：6位
　样品形状：10毫米见方，厚度2毫米以下。
　　探头位置可调整为7～18mm。
　磁铁
　　磁场强度：5.5kOe。
　测量环境
　　测量温度：室温
　尺寸
　　H760㎜×W660㎜×D532㎜
　电脑操作环境
　　兼容Windows7、XP、Vista