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分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7简介
a.可快速、准确测试多种非磁性金属基体(涡流法)上的绝缘涂层厚度;
b.探头和主机分离,适应性更强;
c.一键测试,方便快捷;
d.可采用单点校准和多点校准两种方法对仪器进行精确校准;
e.低功耗更省电,低电量报警;
f.带背光显示屏,蜂鸣器提示;
g.高耐磨探头,不低于80万次测量;
h.多种测量模式:单点测量、连续测量;
分体铝基涂层测厚仪YT4200-P7简介
产品型号 | YT4200-P7 |
产品名称 | 分体铝基涂层测厚仪 |
符合标准 | ASTM B499,ASTM D1400; ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808; GB/T 4956/4957,JB/T 8393 |
基体 | NFe |
探头形式 | 分体式 |
分辨率 | 0.1/1μm |
测量范围 | 0~1250μm |
测量精度 | 零点校正:±(3%H+1)μm; 两点校正:±(1~3%H+1.5)μm; 注:H为样品厚度 |
小测量尺寸 | 10×10mm |
小测量厚度 | 非磁性:0.05mm |
小曲率 | 凸面半径5mm;凹面半径10mm |
显示单位 | μm |
存储容量 | / |
统计功能 | / |
蓝牙 | / |
电源 | 2节5号电池(AA碱性电池或镍氢充电电池); |
尺寸 | 102×66×24mm |
重量 | 99g(含电池) |
品质软件 | / |
工作温度 | 0~40ºC(10~90%RH无凝露) |
储存温度 | -10~50ºC |
标准附件 | 基体1块(铝基体),腕带,校准试片 |
可选附件 | 校准试片(12μm,25μm) |
注: | 技术参数仅为参考,以实际销售产品为准 |