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针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析
全自动X荧光光谱仪UX-310配置与参数 | |
探测器 | Amptek X-123 配置原厂MCA |
高压电源 | Spellman MNX50P50 |
X光管 | 丹东 专用X光管 Mo靶 |
自动化操作系统 | 华唯砖利设计 实现:原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择全自动 |
分析软件 | UX-310专用版 V6.0 多元素分析软件、 镀层膜厚分析软件(二选一) |
技术参数 | |
仪器尺寸 | 570 (W)* 470(D)*480(H)mm |
样品腔尺寸 | 小样品腔:300(W)*300(D)*100(H)mm; 大样品腔:无限制,小于30公斤 |
重量 | 净重:50Kg |
工作环境 | 15—30℃ 相对湿度≤85%(不结露) |
可分析元素范围 | K-U |
*低检出限 | Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm |
测量时间 | 200-400s |
探测器*佳分辨率 | 149±5eV |
电源 | AC 220V ± 10%,50Hz 1000W |
选配件 | |
多元素分析软件、膜厚分析软件(二选一) | |
六价铬测试仪(可进行六价铬的定量分析) | |
真空系统 (可真空测氯,*低检出限≤50PPm) |