SM114日本TECLOCK得乐测厚规 SM114测厚仪
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日本得乐测厚规SM114 TECLOCK测厚仪
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。
指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
SM-114技术参数:
指式方式:指针式
测量范围:0-10mm
最小读数:0.01mm
测量深度:120mm
体积大小:(W*D*H)190*23*145mm
重量:250g
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