冶金行业专业检测系统
型号X-3680
产品概述：
X-3680是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用大功率X射线管为激发源，高分辨率美国
全数字一体化X-123探测器系统，多种准直器与滤波片相结合，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证
了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方， 正是它大有作为之处。

仪器检测能力强，分辨率高，适用于冶金行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。
快速无损检测，无需制样，测试时间从3秒到几分钟可调。检测精度达到1PPM级。检测性能保证符合中华人民共和国国家质量监督
检验检疫总局、中国发布的《GB/T 18043-2013含量的测定 X射线荧光光谱法》中对X射线荧光光谱分析仪的要求：
锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率优于170eV

产品特点：
1.高清数字液晶显示屏，电压电流参数一目了然，符合国家规定的仪器要求
2.仪器双箱体结构：有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性，保障测量精度
3.三重防辐射:配备光电快门装置，更换样品时X光管自动切断电压电流；样品仓打开，X光管快门自动闭锁；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止
   X射线外溢对操作人员的危害，零辐射条件下使用仪器
4.样品成像定位系统：内置自动感光高像素摄像头及*的定位软件，方便样品的局部定位和测量，实时监控样品状态及测试点
5.温度控制系统：内部风冷水冷双循环冷却，限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命，且保证仪器长时间工作稳定，测量精度准确;
6.操作软件：开放的可供客户自行开发和升级的工作软件平台。银，铜双峰位同时自动校准，使仪器校准更加精准，随时修正工作曲线，
    使测量结果达到精度（同行业中采取此校准方法）.一键式操作模式方便、简洁，工作强度小效率高
7.镀层检测：仪器可针对不同基体上的不同镀层进行5层检测，并得出准确结果，使用者可根据需求进行二次开发
8.基于*的X-123全数字探测系统，开机实现测量不需要预热，数字处理器
9.其它应用：可增加有毒有害物质和重金属检测方法，实现一机多用

技术参数：
1. 分析元素范围：铝（Al）13号元素——铀（U）92号元素
2. 元素分析含量范围：1ppm到99.99%
3. 元素同时分析能力：35种元素
4.  测量样品型态：固体，粉末，液体
5. 测量精度：高含量样品误差±0.13 %
中高含量样品误差±0.13-0.3%
低含量样品误差±0.3%
6.测量时间及次数:1秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果,测量次数任意选择,且在多次测量
时可做平均值及标准偏差测量并与结果一起显示
7.可测试样品大小：方便大型样品的检测，关仓测量：335mm×345mm×83mm，开仓测量：无限大
8.探测器：美国Amptek公司高分辨率全数字一体化X-123探测器系统，探测面积6mm2 ,硅活化区厚度：500μm；铍窗，厚度25μm；
                     分辨率： 对于55Fe，@5.9keV  对于12us的形成时间，半高宽为139eV
9. 高压电源：稳定的长效高压电源功率50W
10.定量分析方法：理论α系数法，多元回归法，基本参数法，（国内同行业采取此类综合计算方法）
11.定性分析方法：元素自动寻峰，Kl谱线标记法，峰谱比对法等
12. 滤波系统：多种滤波片与多种准直器任意组合自动切换，有针对性的进行不同元素的测量
13.激发源：大功率X射线管，使用三重制冷系统，对各种元素激发效率更高
14.整机分辨率：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率为153eV-158eV符合中华人民共和国、
                               中国发布的《GB/T 18043-2013 首饰 贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》中对X射线荧光光谱
                               分析仪的要求：锰元素在5.89keV能量位置的峰，分辨率优于170eV。
15.多道分析器：2048道
16.外型尺寸：530mm×480mm×330mm，
17.仪器重量：37kg
18.工作环境温度：18—28℃
19. 工作环境相对湿度：≤70% 

高压电源规格：
1. 电压和电流从零至满量程连续可调：50KV，1mA
2. 电压调整率,负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程0.01 %
3. 线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程0.01%
4. 电流调整率,负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
5. 稳定性：无需预热，每8小时变化不超0.05%
6. 温度系数：温度变化一度，电压变化不超过0.01%

系统组成：
X-3680检测仪一台
分析软件一套