一、tt260涂层测厚仪价格符合以下标准： 
GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 
GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 
JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 
JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》 
JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》 

二、tt260涂层测厚仪价格特点： 
1、采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度； 
2、可使用 7 种测头(F400、F1、F1/90°、F10、CN02、N1) 
3、具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）； 
4、具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(A-B)； 
5、设有五个统计量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、
标准偏差（S．DEV）； 
6、可采用两种方法对仪器进行校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正； 
7、具有存贮功能：可存贮 495 个测量值； 
8、具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量； 
9、可设置限界：对限界外的测量值能自动报警；并可用直方图对一批测量值进行分析； 
10、具有打印功能：可打印测量值、统计值、限界、直方图； 
11、具有与 PC 机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至 PC 机，以便对数据进行进一步处理； 
12、具有电源欠压指示功能； 
13、操作过程有蜂鸣声提示； 
14、具有错误提示功能，通过屏显或蜂鸣声进行错误提示； 
15、设有两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式； 

三 测量原理 
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合 概述 金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。 
a) 磁性法(F 型测头) 
 当测头与覆盖层接触时，测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可导出覆盖层的厚度。 
b) 涡流法(N 型测头) 
 利用高频交变电流在线圈中产生一个电磁场，当测头与覆盖层接触时，金属基体上产 生电涡流，并对测头中的线圈产生反馈作用，通过测量反馈作用的大小可导出覆盖层的厚度。 

四、仪器的校准 
为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。 
3.1 校准标准片（包括箔和基体） 
 已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。 
a) 校准箔 
对于磁性方法，“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。对于涡流方法，通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校准，而且比用有覆盖层的标准片更合适。 
b) 有覆盖层的标准片 
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于磁性方法， 覆盖层是非磁性的。对于涡流方法，覆盖层是非导电的。

3.2 基体 
a) 对于磁性方法，标准片基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与待测试件基体金属的电性质相似。为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。 
b) 如果待测试件的金属基体厚度没有超过表一中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准： 
1) 在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准； 
2) 用一足够厚度的，电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。 
c) 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。

3.3 校准方法 
本仪器有三种测量中使用校准方法: 零点校准、二点校准、在喷沙表面上校准。二点校准法又分一试片法和二试片法。还有一种针对测头的基本校准。本仪器的校准方法是非常简单的。 

3.3.1 零点校准 
适用于除 CN02 外的所有的测头。 
a) 在基体上进行一次测量，屏幕显示＜×.×µm＞。 
b) 按 ZERO 键，屏显<0.0>。校准已完成，可以开始测量了。 
c) 重复上述 a、b 步骤可获得更为精确的零点，高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。 
3.3.2 二点校准 
3.3.2.1 一试片法 
适用于除 CN02 外的所有测头。这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。 
a) 先校零点（如上述）。 
b) 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏幕显示＜×××µm＞。 
c) 用↑、↓键修正读数，使其达到标准值。校准已完成，可以开始测量了。 

3.3.2.2 二试片法 
 适用于除 CN02 外的所有测头。两个标准片厚度至少相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高精度测量。 
a) 先校零值。 
b) 在较薄的标准片上进行一次测量，用↑、↓键修正读数，使其达到标准值。 
c) 紧接着在厚的一个样片上进行一次测量，用↑、↓键修正读数，使其达到标准值。校准已完成，可以开始测量了。 

3.3.2.3 在喷沙表面上校准 
 喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值，其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定。 

方法一： 
a) 仪器要用 3.3.1 或 3.3.2.1 的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。 
b) 在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量 10 次左右，得到平均值 Mo。 
c) 然后，在已涂覆的表面上测量 10 次得到平均值 Mm。 
d) （Mm—Mo）±S 即是覆盖层厚度。 
其中 S（标准偏差）是 SMm和 SMo 中较大的一个。 
方法二： 
a) 用直接方式下的单次测量法测量。 
b) 先用两试片法校准仪器。 
c) 在试样上测量 5～10 次。按 STATS 键，统计值中的平均值即是覆层厚度。 
3.3.2.4 铜上镀铬层的校准方法 
适用于 N1 测头，并使用特殊的校准标准片。（去掉 N400、N1/90°） 
 ⊙必须使用一试片法。 
 ⊙使用标有“铜上镀铬” (CHROME ON COPPER) 字样的特殊标准片。 
3.3.2.5 CN02 测头的校准方法 
CN02 是一种平展的测头，仅适用于测量平滑表面的铜板或铜箔的厚度。 
a) 开机后，将 CN02 测头平稳地放在随机配带的 5.0mm 铜块上，按 ZERO 键，屏幕显示“OO”； 
b) 在标准片上进行一次测量； 
c) 用↑、↓键修正读数，使其达到标准值。校准已完成，可以开始测量。 
d) 测量双面覆铜板需用双面敷铜标准片校准。 

3.3.3 修改组 FX中的校准值 
删除组单元中的所有数据和校准值之后才能重新校准。否则将出现 E20 错误代码和鸣响报警。更换测头后，必须用此方法。 
3.4 基本校准的修正 
 在下述情况下，改变基本校准是有必要的: 
 ____测头顶端被磨损。 
 ____新换的测头。 
 ____特殊的用途。 
 在测量中，如果误差明显地超出给定范围，则应对测头的特性重新进行校准称为基本校准。通过输入 6 个校准值(1 个零和 5 个厚度值)，可重新校准测头。 
a) 在仪器关闭的状态下按住↑和↓键再按 ON 键，直到一声长鸣，即进入基本校准状态； 
b) 先校零值。可连续重复进行多次，以获得一个多次校准的平均值，这样做可以提高校准的准确性； 
c) 使用标准片，按厚度增加的顺序，一个厚度上可做多次。每个厚度应至少是上一个厚度的 1.6 倍以上，理想的情况是 2 倍。例如: 50、100、200、400、800μm。zui大值应该接近但低于测头的zui大测量范围；