温度试验箱设备，LED芯片高低温测试箱
  适用于电子、电工产品和其他设备在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验，也是筛选电子元器件初期故障的助手。  

温度试验箱设备，LED芯片高低温测试箱的特点
1、分高温区、低温区、测试区三部分，测试样品放置测试区*静止，采用*之蓄热、蓄冷结构，强制冷热风路切换方式导入测试区，完成冷热温度冲击测试；既可作冷热冲击试验箱使用又可以作单独的高温箱或单独的低温箱使用；   
2、可由测试孔外加负载配线测试部件；   
3、大型彩色LCD触控对话式微电脑控制系统，操作简单易懂，运行状态一目了然；   
4、全封闭进口压缩机+环保冷媒,板式冷热交换器与二元式超低温冷冻系统；   
5、具有RS-232或RS-485通讯接口，可连接电脑远程操控，使用便捷；   
6、可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，执行冷热冲击条件时，可选择2槽或3槽之功能，并具有高低温试验机的功能；   
7、可在预约开机时间运转中自动提前预冷、预热、待机功能；   
8、可设定循环次数及除霜次数，自动(手动)除霜；   
9、采用日本Q8-900控制器人机界面友好，程序设定方便，异常及故障排除显示功能齐全。   

执行与满足标准    
1、GB/T2423.1-1989低温试验方法；     
2、GB/T2423.2-1989高温试验方法；     
3、GB/T2423.22-1989温度变化试验；     
4、GJB150.5-86温度冲击试验；     
5、GJB360.7-87温度冲击试验；     
6、GJB367.2-87 405温度冲击试验。     
7、SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式      
8、SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式      
9、满足标准IEC68-2-14_试验方法N_温度变化      
10、GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则      
11、GB/T 2423.22-2002温度变化      
12、QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则    
13、EIA 364-32热冲击(温度循环)测试程序的电连接器和插座的环境影响评估 

技术规格