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荧光寿命分析仪（SHDROID-FLA-T01）

荧光寿命分析仪（SHDROID-FLA-T01）

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2022-12-16 12:34:11: 260

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产品简介

荧光寿命分析仪是一款高灵敏度荧光强度分析系统。多功能样品室，可满足不同用户的样品放置需求；光栅单色仪并配合高灵敏单光子探测器，专门针对微弱荧光进行强度进行检测；采用TCSPC多通道时间相关单光子计数系统进行数据采集，再配合功能丰富的数据采集及分析处理软件，可为电致发光、光致发光的应用提供技术支撑。

详细介绍

波长可自动设置；
可选配自动调节狭缝；
荧光寿命32ps-31.2s；
系统无需校准；
自带计算机及分析软件；
模块化设计,方便升级。

发光材料分析；
生物分子荧光分析；
材料荧光光谱分析；
拉曼光谱分析；
元素分析；
光学器件分析；
粒子特征分析；
荧光寿命分析；

测量模式：TCSPC(时间相关单光子计数)；
测量精度：32ps-500us，可通过软件设置；
时间通道个数：1000-65000，可通过软件设置；
数据获取：获取时间32ns—31.2s；通道数量1000—65000个；抖动时间小于11ps；
激发源：可选配皮秒或纳秒激光器激发源或电脉冲激发源；
检测器特性：单光子计数探测器；PMT响应范围300nm—700nm，暗计数50cps；可扩展至870nm；或SPAD响应范围350nm-1060nm；
荧光波长选择：通过单色仪自动调整，最小步进精度0.0045nm；
数据分析：最小二乘法拟合，可获得荧光寿命等信息，可选择输出原始数据；
操作系统：Window10；
工作温湿度：-20°C to + 40°C / 小于 80%；
存储温湿度：-20°C to + 80°C / 小于85% 。

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