利用*探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。

利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。

4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训，首先对样品进行导航，然后设置成像条件。

接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。最后使用工作流程的步，将结果可视化。

将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。

获益于 8.5 mm 短的分析工作距离和 35° 夹角，获取完整且无阴影的分析结果。

Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。

Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。