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LED寿命测试系统

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产品简介

可用于大批量LED测试，NIST溯源的校准数据。

l 服务于大批量LED测试

l 人机工学设计的工作平台便于操作者监控测试过程

l 背照式CCD光谱仪具有高灵敏度

l 单次测量中保证光学和电学测试同时进行

l 快速、准确，全软件控制

l NIST溯源的校准数据

l 测量参数包括辐射通量、光通量、峰值波长、质心波长、主波长、半峰值带宽、CIE光谱纯度、CIE色度、正向电压、正向电流、反向漏电流等

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