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南京市所在地
的 FPA 成像性能
高清光谱和视觉数据
创新的校准技术 PermaSure+
超快成像数据采集
巨大视野和高达亚微米级别的视觉分辨率
ATR、透射和反射模式下的焦平面阵列（FPA）成像
标准 TE-MCT 检测器可在无液氮的情况下提供高灵敏度！
软件引导的测量支持初学者和专业用户
放置样品轻松：允许样品厚度达40毫米
全电动化和自动化的硬件
符合cGMP/GLP、USP、ChP、JP、Ph.Eur. 和联邦法规 21 章第 11 款 (21 CFR p11)
自动 OQ/PQ/药典测试
如果应用需求发生变化，可随时升级系统
我们相信并努力做到，向所有用户提供*的技术。繁琐的硬件和软件操作不应该成为限制FTIR显微和成像技术巨大优势的因素。
我们称之为真正的 FPA 成像。为什么？
因为 LUMOS II 通过使 FTIR 成像更快、更容易、更准确、更可靠甚至更有趣来提升 FTIR 成像品质。
为实现这一目标，我们专门为用户量身定制了 LUMOS II、软件和用户界面。初学者也可以立即获得的测试结果，专家则可以利用LUMOS II的无限潜能。
LUMOS II 在透射和反射测量中的出色结果是显而易见的。此外，一个值得注意的亮点是衰减全反射 (ATR) 的测量。
简而言之，LUMOS II ATR模式下的性能是的。不要满足于不可靠的、手动的 ATR 配件 — 要获得。要拥有 LUMOS。
可伸缩的晶体由高精度压电电机控制并被集成到透镜中。这使您可以清楚地看到样品，并在您选定的位置进行精确测量。
标准 TE-MCT 检测器
无需液氮
无需吹扫
低功耗
抗高湿度（ZnSe 光学元件）
包括激光在内的元件寿命长
占用空间小
显微镜中的
带集成压力传感器的电动ATR晶体
ATR模式下的FPA成像
在ATR、透射和反射模式之间快速切换
高精度样品台
自动测量
LUMOS II 是一款易于使用的独立式 FTIR 显微镜，在任何测量模式下均具有性能。无论是透射、反射还是衰减全反射 (ATR)，LUMOS II 始终是正确的选择。
但它的优势是 ATR 显微技术。
FTIR 显微技术中 ATR 的适用性令人惊奇，结合FPA 成像可以进一步增强它的适用性。这使得 LUMOS II 成为故障分析和产品开发的常用工具。
诚然，每种技术都有其优点和缺点。在 FTIR 显微技术中，透射和反射面临着类似的限制因素限制其适用性。
相比之下，ATR 在无需样品制备的情况下，几乎可为任何样品类型提供高品质的 FTIR 数据。此外，它还提供高空间分辨率。
与透射和反射测量相比，在ATR中，锗晶体充当固体浸没透镜，将空间分辨率提高 4 倍。这样，您可以轻松分析小至几微米的样品。
在透射中，样品必须足够薄以使红外辐射穿透。对于大多数样品，这需要耗时的样品制备，例如使用精细切片机切片。
如果要检测小纤维或微粒，必须使用昂贵的红外透明的滤膜和压片单元。
在反射中，样品需具备光滑的、抛光的红外反射表面，或者放在铝镜或金镜上。在后一种情况下，样品也必须非常薄才能有足够的红外线通过，从而获得合适的红外光谱。此外，反射光谱通常需要特殊的数据处理以进行评估。
对我们来说，向客户交付技术是理所应当的事。这也适用于 LUMOS II。
RockSolidTM 干涉仪可确保恒定的性能，而现代电子设备可确保机械精度和低能耗。同时，软件可监控仪器的有效性并始终确保正确的功能。
FTIR 成像的应用非常多样。上面的例子概述了 ATR-FTIR 显微技术的实用性。无论是产品开发、故障分析还是识别古代壁画的成分 — LUMOS II 都能从容高效地完成这一切。
