QNix 4500涂层测厚仪原理

QNix 4500涂层测厚仪原理

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2023-03-03 10:40:09
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QNix4500涂层测厚仪原理QNix4500涂层测厚仪原理磁性测量原理一、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的,覆层愈厚,磁通愈小

详细介绍

QNix 4500涂层测厚仪原理

QNix 4500涂层测厚仪原理

磁性测量原理

一、磁感应原理测厚仪磁感应原理是利用测头经过非铁磁覆层而流入铁基材的磁通大小来测定覆层厚度的,覆层愈厚,磁通愈小。由于是电子仪器,校准容易,可以实多种功能,扩大量程,提高精度,由于测试条件可降低许多,故比磁吸力式应用领域更广。当软铁芯上绕着线圈的测头放在被测物上后,仪器自动输出测试电流,磁通的大小影响到感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。早期的产品用表头指示,精度和重复性都不好,后来发展了数字显示式,电路设计也日趋完善。

二、采用电涡流原理的测厚仪,原则上所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其他铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。有些特种用途如某种金属上的金刚石镀层及其它喷镀不导电层。覆层材料也可以有一定的导电性,通过校准同样也可以测量,但要求两者的导电率之比至少相差3~5倍以上(如铜上镀铬)。校准的原则是没有覆层的校准试样与被测物的基材应有:成分相同,厚度相同(主要在于厚度小于仪器规定的小值约0.5mm以下时),有相同的曲率半径,如被测面积小于仪器技术参数的要求(直径约20mm以下),还应有相同的被测面积。如覆层含有导电成份,校准试样的覆层也应与被测物的覆层有相同的导电性能。校准试样的覆层经过其它(包括有损测试方法)测试后标定厚度或用已标定的校准薄片做覆层,就可以在其上面按说明书的方法校准测厚仪。校准后就可以在被测产品上进行快速无损检测。校准薄片一般用三醋酸酯薄膜或经树脂浸渍过的硬纸。微电脑测厚一般有多个校准值存贮。随着被测产品的不同位置、材料变化、更换测头等均可分别校准并存贮。实际使用时直接调用各校准值,就无须重新调校了。这即是所谓“速换基准”。大大提高了检测效率。测试数据在智能化仪器里一般可以存贮、打印、计算统计数据供分析,还有可以打印直方图的功能使覆层厚度分布一目了然。如设置了上下极限还可以使统计数据更加准确,测量时所有超限的点都有声响提醒注意并不取入做统计计算用。

QNix 4500测厚仪特点:

1.只需调零、无需校准
2.Fe/NFe两用探头
3.QuaNix 4200/4500 涂镀层测厚仪一体化设计
4.QuaNix 4200/4500 涂镀层测厚仪自动开关机

QuaNix 4200/4500 涂镀层测厚仪技术参数

型 号

4200

4500

120015007500keyless
基 体FeFe/NFeFeFe/NFeFe、NFe、Fe/NFe

Fe/NFe

探头形式一体一体、分体

无线分体

显 示LCD数字显示
测量范围0-3000μmFe:0-3000μm

NFe:0-2000μm

0-2000μm0-5000μm0-2000μm

0-5000μm

0-5000μm
测量精度0-50μm:≤±1μm,50-1000μm:≤±1.5%,1000-2000μm:≤±2%,

2000-5000μm≤±3%

显示精度0.1μm0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm
工作温度-10 - +60℃
温度补偿0-50℃
存 储1500M型7500M型

keylessM型

3900个测量值,999个数据组
数据传输RS232打印、电脑
统计功能平均值、大值、小值、标准偏差
超限报警

上下限

小基体10mm×10mm
小曲率凸、凹半径:3mm/25mm凸半径:5mm,凹半径:25mm
厚度Fe:0.2mm,NFe:0.05mm
电 源5号电池2节9V碱性电池1节

5号电池2节

重 量110g130g150g

130g

尺 寸110×60×27mm166×64×34mm110×60×24mm110×62×22mm
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