科研级微分干涉金相显微镜XJ-52DIC适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究，或用于TFT液晶显示屏导电粒子分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。总放大倍数：50-800X。
◆产品特点：
1、采用了无限远光路设计。
2、采用大视野目镜和无限远长距平场物镜，视场平坦,成像清晰。
4、整机采用了防霉处理，保护了镜头，延长了仪器的使用寿命。
5、两路光路自由切换输出，一路用于观察，一路连接摄像装置。
6、配有大范围移动的移动载物台，适合对大型工件观察和研究。
◆典型应用：
1、电子工业制造业对硅片、电路基板、FPD、PCB板、芯片检验，
2、观察材料表面的某些特性，3、分析金属、矿相内部结构组织。

一、显微镜参数：

二、目镜参数：

三、物镜参数：