荧光寿命测试系统
荧光寿命测试系统

HORIBA荧光寿命测试系统

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2023-07-06 16:42:09
557
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产地:进口;产品新旧:全新;色散单元:光栅;
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HORIBA 科学仪器事业部

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产品简介

HORIBA荧光寿命测试系统:荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外,可见,或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒,或更长的寿命范围。

详细介绍

HORIBA荧光寿命测试系统仪器简介:
        HORIBA Scientific(Jobin Yvon光谱技术)----荧光光谱仪器的供应商,提供全套稳态、瞬态和稳-瞬态以及各种偶联技术的解决方案。
       荧光寿命光谱是研究样品受激后辐射出的紫外,可见,或近红外荧光与时间的变化。可利用荧光的衰减测定皮秒到秒,或更长的寿命范围。
       HORIBA Scientific提供的研究级荧光寿命光谱仪有模块化或紧凑型设计,可按应用需求定制光谱仪。
       Fluorocube将新的迷你化光源和检测技术与成熟的TCSPC电子系统,及自动化操作结合起来,提供灵活和界面友好的光子计数寿命系统。
 
可选附件  
· 激发/发射单色仪:Seya-Namioka型,波长可调(200~800 nm),与样品仓盖之间集成安全锁,同步手动调节狭缝宽度(1~32nm)
· 四位光束控制反射镜(可选)

· 偏振器
· 红外扩展 PPD 模块 (例如PPD-850C 或 PPD-900C)
· NIR检测器(~1700nm)
· 固体样品支架
· 低温附件
· 低荧光背景滤光片
 
HORIBA荧光寿命测试系统技术参数:
· 寿命范围从皮秒至秒
· 基于滤光片实现波长选择(可选激发/发射单色仪)
· 外循环液体控温样品架
· PPD 光子检测模块(标配)
· 检测器范围185nm-650nm,可升级至850nm(与样品仓盖之间配有安全锁)
· Fluorocub计时电子装置,皮秒到秒寿命范围(依赖于激发光源)
· 综合分析软件
· 可选偏振器测量自旋相关时间
· NanoLED和SpectraLED二管激发光源覆盖全波长范围

主要特点:
· 灵敏度高:单光子计数技术
· 准确性好:计时电路无需校正
· 灵活性强:可选多种光源,寿命响应范围宽
· 模块化:可以根据需要定制模块配件
· 方便性:全电脑控制,易于操作
 
Fluorocube产品系列:
· FluoroCube NL:滤光片分光系统及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统
· FluoroCube-01-NL:发射单色器及二管激发光源---基本的荧光寿命测量系统
· FluoroCube-11-NL:带有激发/发射单色器和二管激发的寿命体系
· FluoroCube-10-CF:激发单色器(滤光片检测通道)和闪光灯激发的寿命系统
· FluoroCube-11-CF:激发/发射单色器和闪光灯激发(5000U)的寿命系统
· PhosphoCube-10-XF:激发单色器(滤光片检测通道)和微妙氙灯闪光灯激发的磷光寿命系统
· PhosphoCube-11-XF:激发/发射单色器和微秒氙灯激发的磷光寿命系统

注:具体配置、价格请咨询当地销售工程师

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