μ-X360s-便携式X射线残余应力分析仪-μ-X360s-上海洛丰精密检测仪器有限公司手机版

产品简介

X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一，是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的，至今仍然是研究得较为广泛、深入、成熟的残余应力分析和检测方法之一，被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。2012年日本Pulstec公司开发出基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪——μ-X360n，将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度，设备推出不久便得到业界的广......

详细介绍

新一代μ-X360s具有以下优点：

更快速：二维探测器一次性采集获取完整德拜环，单角度一次入射即可完成残余应力测量。

更精确：X射线单次曝光可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合，结果精确。

更轻松：无需测角仪，单角度一次入射即可，复杂形状和狭窄空间的测量比较轻松。

更方便：无需任何液体冷却装置，支持便携电池供电。

更强大：支持扩展区域应力分布自动测量功能，具备晶粒尺寸均匀性、材料织构、残余奥氏体含量分析等功能。

参数

准直器尺寸	X射线管参数 30KV 1.5mA
X射线管所用靶材	标配：铬靶（可选配其他）
是否需要冷却水	无需
是否需要测角仪	无需
X射线入射角度	单一入射角即可获取全部数据
所用探测器	二维探测器
直接测量参数	残余应力衍射峰的半峰高全宽
电源参数	130W功率 110-240V 50-60HZ
可否户外现场检测	设备便携、支持便携电池供电